Nanopartikler er meget udbredt inden for forskellige områder såsom lægemiddellevering, billeddannelse og materialevidenskab. Belægninger på overfladen af nanopartikler kan påvirke deres egenskaber og ydeevne. Derfor er det vigtigt at måle tykkelsen af belægninger for at forstå deres virkninger på nanopartikler. I dette blogindlæg vil vi introducere flere metoder til at måle tykkelsen af belægninger på nanopartikler.
1. Transmissionselektronmikroskopi (TEM)
TEM er en kraftfuld billedbehandlingsteknik, der kan give billeder i høj opløsning af nanopartikler. Det kan også bruges til at måle tykkelsen af belægninger på nanopartikler. TEM fungerer ved at sende en elektronstråle gennem prøven, og interaktionen mellem elektronerne og prøven kan bruges til at skabe et billede. Ved at bruge TEM kan kontrasten mellem belægninger og nanopartikler bruges til at måle tykkelsen af belægningerne.
2. Atomic Force Microscopy (AFM)
AFM er en anden billeddannelsesteknik, der kan bruges til at måle tykkelsen af belægninger på nanopartikler. Det virker ved at scanne overfladen af prøven med en lille sonde. Sonden kan måle højden af prøven med høj præcision, som kan bruges til at beregne tykkelsen af belægninger på nanopartikler. AFM kan levere billeder i høj opløsning og er velegnet til at måle tykkelsen af belægninger på en enkelt nanopartikel.
3. Ultraviolet-synlig (UV-Vis) spektroskopi
UV-Vis spektroskopi er en teknik, der kan bruges til at måle tykkelsen af belægninger på et stort antal nanopartikler samtidigt. Det virker ved at måle absorptionsspektrene for nanopartikler i opløsning. Belægninger på nanopartiklerne kan påvirke absorptionsspektrene, og tykkelsen af belægninger kan beregnes ud fra graden af spektralforskydning. UV-Vis spektroskopi er en hurtig og enkel metode til at måle tykkelsen af belægninger på nanopartikler.
4. Quartz Crystal Microbalance (QCM)
QCM er en meget følsom teknik, der kan bruges til at måle massen af nanopartikler. Ved at måle masseændringen af nanopartikler med og uden belægninger kan tykkelsen af belægninger beregnes. QCM kan give overvågning i realtid af tykkelsen af belægninger og er velegnet til at studere stabiliteten og kinetikken af belægninger på nanopartikler.
Afslutningsvis er der flere metoder til at måle tykkelsen af belægninger på nanopartikler, hver med sine fordele og begrænsninger. Valget af metode afhænger af de specifikke krav til applikationen. Ved at forstå tykkelsen af belægninger på nanopartikler kan vi designe og optimere deres egenskaber og funktioner til forskellige anvendelser.
